• Produkt wycofany
Podstawka testowa ZIF 64pin raster 20mm
Podstawka testowa ZIF 64pin raster 20mm
Podstawka testowa ZIF 64pin raster 20mm
Podstawka testowa ZIF 64pin raster 20mm - zdjęcie 1
Podstawka testowa ZIF 64pin raster 20mm - zdjęcie 2
Podstawka testowa ZIF 64pin raster 20mm - zdjęcie 3

Podstawka testowa ZIF 64 pin

Indeks: UCC-04740
Zadaj pytanie

Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 64 piny. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 22 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm.

Podstawka testowa ZIF 64 pin
35,00 zł
28,46 zł netto
Zapłać później
SPRAWDŹ ILOŚĆ
Niedostępny
Produkt wycofany
Darmowa dostawa
30 dni na zwrot
Producent: OEM

Uwaga!

Sprzedaż produktu została zakończona. Sprawdź inne w tej kategorii.

Opis produktu: Podstawka testowa ZIF 64 pin

Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 64 piny. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 22 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm.

Podstawka testowa ZIF 64-pinPodstawka testowa ZIF 64-pin.

Specyfikacja podstawki ZIF

  • Liczba wejść: 64 (2 x 32)
  • Raster między rzędami: 22 mm
  • Raster między pinami: 2,54 mm
  • Napięcie: do 50 V DC
  • Prąd: do 100 mA na styk
  • Rezystancja: do 50 mΩ
  • Żywotność: co najmniej 25 000 cykli
  • Temperatura pracy: od -25 °C do 70 °C
Szerokość opakowania 0.001 cm
Wysokość opakowania 0.001 cm
Głębokość opakowania 0.001 cm
Masa opakowania 0.001 kg
Wyślij pytanie

Jako pierwszy zadaj pytanie dotyczące tego produktu!

Kraj pochodzenia: Polska

Klienci którzy zakupili ten produkt kupili również:

Produkty z tej samej kategorii: