Opis produktu: Podstawka testowa ZIF 28 pin
Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 28 pinów. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 7,62 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm.
Specyfikacja podstawki ZIF
- Liczba wejść: 28 (2 x 14)
- Wąska podstawka: ok. 15 mm szerokości
- Raster między rzędami: 7,62 mm
- Raster między pinami: 2,54 mm
- Napięcie: do 50 V DC
- Prąd: do 100 mA na styk
- Rezystancja: do 50 mΩ
- Żywotność: co najmniej 25 000 cykli
- Temperatura pracy: od -25 °C do 70 °C
Szczegóły w dokumentacji technicznej.
Podstawka testowa ZIF 28 pin Botland - Sklep dla robotyków
Oferujemy podstawkę testową ZIF z 28 pinami. To znakomite narzędzie dla każdego elektronika czy robotyka. Doskonale sprawdza się podczas realizowania prototypów nowych urządzeń. Jej podstawową zaletą jest możliwość wielokrotnego wkładania i wyjmowania z niej układów scalonych.
Tego typu komponent elektroniczny najczęściej jest wlutowywany w płytkę drukowaną w miejscu, w którym docelowo miałby znaleźć się układ scalony (na przykład mikroprocesor). Podczas prototypowania możesz umieszczać tam różne rodzaje układów scalonych - ważne abyś mógł właściwie wykorzystywać zaprojektowane ścieżki drukowane. Podczas zakupu warto zwrócić uwagę, aby podstawka miała nie mniejszą liczbę wejść, niż posiada komponent, który zamierzasz w nią wpiąć.
Podstawka testowa do prototypowania
Komponent wyposażony jest w dwa rzędy wejść po 14 pinów. Całość ma około 15 mm szerokości, raster między rzędami wynosi 7,62 mm, natomiast raster między pinami to 2,54 mm. Napięcie, do którego jest przystosowana podstawka nie powinno przekraczać 50 V prądu stałego, przy napięciu do 100 mA na jeden styk.
W kategorii “Podstawki pod układy scalone” znajdziesz znacznie więcej podstawek o różnych wymiarach, właściwościach oraz różnych ilościach wejść. Sprawdź także pozostałą część oferty naszego sklepu - posiadamy szeroki wybór produktów z dziedzin robotyki, elektroniki i automatyki.