Opis produktu: Podstawka testowa ZIF 16 pin
Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 16 pinów. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 7,62 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm. Idealna wszędzie tam, gdzie realizowane są testowanie układów scalonych, kontrola jakości, programowanie mikrokontrolerów, in-circuit programming (ICP), prototypowanie i projektowanie układów.
Bezpieczne układy scalone z ZIF
Główna zaleta podstawek ZIF to możliwość łatwego wpinania i wypinania układów scalonych bez potrzeby użycia siły, co znacznie redukuje ryzyko uszkodzenia pinów układów scalonych. Mechanizm dźwigniowy ułatwia szybkie zamykanie i otwieranie podstawki, co przyspiesza procesy testowania i programowania układów. Pozłacane styki zapewniają doskonałe przewodzenie prądu i minimalizują ryzyko korozji, co jest kluczowe dla utrzymania stabilności elektrycznej połączeń.
Podstawka testowa ZIF 16-pin.
Podstawka ZIF 16 pin.
Specyfikacja podstawki ZIF
- Liczba wejść: 16 (2 x 8)
- Raster między rzędami: 7,62 mm
- Raster między pinami: 2,54 mm
- Napięcie: do 50 V DC
- Prąd: do 100 mA na styk
- Rezystancja: do 50 mΩ
- Żywotność: co najmniej 25 000 cykli
- Temperatura pracy: od -25 °C do 70 °C
Szczegóły w dokumentacji technicznej.
