• EOL
Podstawka testowa ZIF 24pin raster 7,62mm wąska
Podstawka testowa ZIF 24pin raster 7,62mm wąska
Podstawka testowa ZIF 24pin raster 7,62mm wąska
Podstawka testowa ZIF 24pin raster 7,62mm wąska - zdjęcie 1
Podstawka testowa ZIF 24pin raster 7,62mm wąska - zdjęcie 2
Podstawka testowa ZIF 24pin raster 7,62mm wąska - zdjęcie 3

Podstawka testowa ZIF 24 pin

Indeks: UCC-04735
Zadaj pytanie

Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 24 piny. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 7,62 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm.

Podstawka testowa ZIF 24 pin
4,70 zł
3,82 zł netto
Powiadom o dostępności
SPRAWDŹ ILOŚĆ
Niedostępny
Produkt wycofany
Darmowa dostawa
30 dni na zwrot
SPRAWDŹ ILOŚĆ
Producent: OEM

Uwaga!

Sprzedaż produktu została zakończona. Sprawdź inne w tej kategorii.

Opis produktu: Podstawka testowa ZIF 24 pin

Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 24 piny. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 7,62 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm.

Podstawka testowa ZIF 24-pinPodstawka testowa ZIF 24-pin.

Specyfikacja podstawki ZIF

  • Liczba wejść: 24 (2 x 14)
  • Wąska podstawka: ok. 15mm szerokości
  • Raster między rzędami: 7,62 mm
  • Raster między pinami: 2,54 mm
  • Napięcie: do 50 V DC
  • Prąd: do 100 mA na styk
  • Rezystancja: do 50 mΩ
  • Żywotność: co najmniej 25 000 cykli
  • Temperatura pracy: od -25 °C do 70 °C

 

Szczegóły w dokumentacji technicznej.

Szerokość opakowania 0.001 cm
Wysokość opakowania 0.001 cm
Głębokość opakowania 0.001 cm
Masa opakowania 0.001 kg
Wyślij pytanie

Jako pierwszy zadaj pytanie dotyczące tego produktu!

Klienci którzy zakupili ten produkt kupili również:

Produkty z tej samej kategorii: