• EOL

Podstawka testowa ZIF 20 pin

Indeks: UCC-04733

Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 20 pinów. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 7,62 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm.

Podstawka testowa ZIF 20 pin
3,90 zł
3,17 zł netto
Powiadom o dostępności
Niedostępny
Produkt wycofany
Producent: OEM

Uwaga!

Sprzedaż produktu została zakończona. Sprawdź inne w tej kategorii.

Opis produktu: Podstawka testowa ZIF 20 pin

Podstawka testowa typu ZIF do układów scalonych wyposażonych w 20 pinów. Posiada dźwignię, dzięki której zaciskane jest gniazdo wielopinowe. Podstawka wyposażona w pozłacane styki. Raster między rzędami jest równy 7,62 mm, natomiast raster między pinami 2,54 mm.

Podstawka testowa ZIF 20-pinPodstawka testowa ZIF 20-pin.

Specyfikacja podstawki ZIF

  • Liczba wejść: 20 (2 x 10)
  • Raster między rzędami: 7,62 mm
  • Raster między pinami: 2,54 mm
  • Napięcie: do 50 V DC
  • Prąd: do 100 mA na styk
  • Rezystancja: do 50 mΩ
  • Żywotność: co najmniej 25 000 cykli
  • Temperatura pracy: od -25°C do 70°C

 

Szczegóły w dokumentacji technicznej.

Szerokość opakowania 0.001 cm
Wysokość opakowania 0.001 cm
Głębokość opakowania 0.001 cm
Masa opakowania 0.001 kg

Jako pierwszy zadaj pytanie dotyczące tego produktu!

Klienci którzy zakupili ten produkt kupili również:

Produkty z tej samej kategorii: